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取扱製品のご案内
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校正装置及びマスタ
ウインタース社ヨウ素安定化He-Neレーザーモデル100
アメリカのウインタース社ヨウ素安定化He-Neレーザーモデル100は長さ校正用として日本では(財)機会振興協会技術研究所様にて受託業務のレーザー波長校正装置にネオアーク株式会社様ヨウ素安定化He-Neレーザーとともに使用されています。日本のその他の顧客にて使用されているのはMicro-g LaCoste社の絶対重力計への組込みだけと思っていましたが、実は日本の大手企業様でも数台使用されていたのです。目的は出荷製品の長さ校正用でした。今回運悪くレーザー管から若干の漏れが見つかり動作不安定になり、弊社からアメリカコロラド州デンバ(アメリカNISTのレーザー研究部門があります)のウインタース社に再輸入の許可を取り送り返して修理してもらいました。現在非常にスムースに稼動しております。
ウインタース社ヨウ素安定化He-Neレーザーモデル100及び200
 アメリカ ウインタース社 (Winters Electro-Optics, Inc.) はヨウ素安定化ヘリウムネオンレーザモデル100を世界に発売し、第2次長さ標準器のレーザ周波数の校正に用いられます。
1. 波長633nm
2. 公称出力100μW
3. 周波数安定度2.5x10-11
4. 全仕様は1997年CIPM勧告の実用の付に準拠
5. ヨウ素安定化セルはフランスBIPMにて製造・校正)
 ウインタース社レーザー100型のカタログ
ウインタース社レーザカリブレーションのカタログ
 アメリカ ウインタース社 (Winters Electro-Optics, Inc.) の新型"オフセットロックヨウ素安定化HeNeレーザ モデル200"はモデル100と同等の周波数の安定性と精度を持ちながら出力は8倍です。レーザ干渉測定で起こる複雑さを改善するために設計されました。
1. 周波数精度：2.5 x 10-11
2. 出力オフセット周波数：+110.000 ± 0.003 MHz
3. 出力パワー：0.8 - 1.0 mW
4. 大きさ：50.8 x 30 x 10 cm、15.5 kg
5. 米国CDRH規格：クラス II レーザ製品
 ウインタース社新型レーザー200型のカタログ
 アメリカ ウインタース社新設ホームページ
イエナメステクニック社
精密温度計 TEMP 14
ドイツ イエナメステクニック社 (JENAer Meßtechnik GmbH) カールツアイス イエナの研究センタから光学測定部門が分離し独立したもので、精密温度計TEMP12と一緒に精密温度計TEMP14も2009年末から販売を開始しました。センサは同じくNTC(Negative Temperature Coefficient)サーミスタで、分解能ほか精度などはTEMP12に同じです。非常にコンパクトな筐体になり、USB2.0インタフェース接続により使用が簡単になりアプリケーションが広がりました。
主たる仕様は以下の通りです。
- 分解能：A/Dコンバータ24ビット
- 測定範囲：0...60 ℃
- 分解能：0.1 mK (0.0001 K)
- 温度測定精度：±0.4 mK
- チャンネル：16
- サンプリング：2.5秒(全16チャンネル)
今回特に0 ℃以下の低温域と+60 ℃以上の高温域の測定対応の白金抵抗温度センサPT10000は測定範囲-200 ℃から+450 ℃に対応します。但し本体での表示は-50 ℃から+400 ℃です。
今回もTEMP14和文カタログを作成しました。A4版4ページです。下記PDFファイルからダウンロードできます。
イエナメステクニック社TEMP14のカタログ
精密温度計 TEMP 12
 ドイツ イエナメステクニック社 (JENAer Meßtechnik GmbH) カールツアイス イエナの研究センタから光学測定部門が分離し独立したもので、レーザー測長機及び精密温度計の2種類を製造販売しております。従来の精密温度計TEMP10の後継機種としてTEMP12がお求め安い価格で発売されました。センサはサーミスタですが0.1mK(ミリケルビン)の分解能で年間の温度ドリフトは2mK以下です。DKD校正証明書つきでもお求めできます。温度校正のマスタ機としてお使いください。
今回和文カタログを作成しました。A4版4ページです。下記PDFファイルからでもダウンロードできます。仕様は2007年2月現在確認済みです。
なお標準の温度計は同じくドイツのラムブレヒト社 (Wilh. Lambrecht GmbH) 製品があります。上欄｢製品案内｣から「気象観測用機器」さらに｢温度｣をクリックしてネットサーフィンしてください。
イエナメステクニック社TEMP12のカタログ
光ファイバ接続高速追従型2周波レーザー干渉計 ZLM900-3D / ZLM900-LSI
ドイツ イエナメステクニック社 (JENAer Meßtechnik GmbH) カールツアイス イエナの2周波数レーザー干渉計測システムです。ZLM900-3Dは3軸ヘテロダイン干渉計で位置、ピッチとヨー角、三角測量(Triangulation)用で、全3軸リアルタイム計測できます。ダイナミック測定は毎秒4m、分解能は1nm(位置)あるいは0.01b尿(角度)、精度は高精度温度センサを使用して50 nm/m以下です。なお最大で6測定軸まで拡張可能です。右の写真はZLM900-3Dのレーザー部です。
ZLM900-LSIはヘテロダイン 1-ファイバ1-ビームのミニチュア干渉計です。同じくダイナミック測定は毎秒4m、リアルタイム計測です。標準分解能は1nmで、最大加速度は毎秒4mです。
光ファイバ接続高速追従型2周波レーザー干渉計 ZLM900-LSI
 ドイツ イエナメステクニック社 (JENAer Meßtechnik GmbH) カールツアイス イエナのレーザー測長機'ZLM900-LSI'です。好評のZLM500/700型と同じ2周波数レーザー干渉計測システムを使っていますが、レーザー測定ヘッド用の三脚は不要で光ファイバによるレーザー光源の接続で使いやすさは一段とアップします。ダイナミック測定は4m/sまで追従できます。ラップトップ専用でソフトウエアはダイナミック距離測定、ピッチングとヨーイング測定も可能です。
カタログは1枚です。見たい方はここをクリックしてください。
｢レーザー干渉計の原理と長さ測定への応用｣という技術資料もあります。
 技術資料のご請求はEメイルにてお願いします！
高速追従型2周波レーザー干渉計 ZLM700 / ZLM800
ドイツ イエナ・メステクニック社 (JENAer Meßtechnik GmbH) カールツアイス イエナの高速追従型2周波レーザー干渉計ZLM700 / 800です。2周波数レーザー干渉計測システムを使い、2つのモードのビート周波数640MHzは信号処理のためにさらに4倍にされ、高周波信号処理技術で高速移動の測定対象物も信号分割誤差をなくし、リニアの測定速度(ダイナミック測定)は毎秒4mでオプションで毎秒12ｍまで追従できます。測定範囲は40m以下でオプションで最大120mまで可能です。ZLM700は1個のレーザーヘッドに対して1測定軸ですが、ZLM800は4測定軸でオプションで最大6測定軸まで可能です。
イエナメステクニック社ホームページ
ドイツ キュー・ピー・ティー Q.P.T.社
ドイツ キュー・ピー・ティー社 (Q.P.T. Innovation Technik Handels GmbH) 校正標準片はお手持ちの輪郭形状測定機用に特別に形成されたトレーサブルなプロファイルを持っています。このプロファイルは測定機の総合精度、すなわちトレーサから機器本体までの点検に使用され、Q.P.T.社標準片は日常業務の必需品でもあります。
この業務は測定機のその機能をチェックすることで、しかも素早くそして簡単に行なわれます。これはQ.P.T.社標準片の基本的な考えです。なお標準片を使って測定機を点検する前には、測定機メーカの取説なりガイドに従い校正を行なって下さい。その後標準片を測定し、標準片証明書の実測値と測定機で得られた値と比較して下さい。
なおこの検査は定期的に行って下さい。これは例えばISO 9000に従う規則においての校正の証明にもなります。証明書などの作成に際してももし疑問があればお尋ね下さい。Q.P.T.社の全ての標準片には固有のシリアル番号が刻印され、お手持ちの測定機の構成部品として欠かすことはできません。
通常Q.P.T.社校正証明書が添付されますが、ドイツ校正機関DKDの証明書発行も可能です。
輪郭標準片CN 303
ドイツ規格DIN 55350-18-4.2.2.準拠の証明書を使って輪郭形状測定機を検査します。
検査項目：
・ 約90度の角度
・ 約2500 μmの半径
・ 約1000 μmの距離の5つのプロファイル溝
パラメータチェック：
・ 縦倍率感度
・ 横倍率感度
・ トレーサ(触針)の形状
・ トレーサの動特性
輪郭標準片CN 181
ドイツ技術者協会VDI及びドイツ電気技術者協会VDE規格2629準拠で測定機の検査を行ないます。
全長180 mmの中に8種の異なった幾何形状をもっています。
検査項目：
・ 90度凸面角度2個
・ 90度凹面角度1個
・ 凸面半径3個
・ 凹面半径2個
・ 横方向と縦方向距離(X及びZ値)
輪郭形状測定機用校正標準片の詳細は以下のPDFファイルをご参照下さい。
輪郭形状測定機用Q.P.T.社校正標準片
ドイツ キュー・ピー・ティー社 (Q.P.T. Innovation Technik Handels GmbH) は電子マイクロメータのヘッドやダイヤルゲージの検査機を発表しました。電子マイクロのヘッド単体でも検査できるユニークなテスタです。
Q.P.T.社のダイヤルゲージテスタ｢TKU 40｣の特長は、従来の市販のダイヤルゲージテスタでも電子マイクロメータの検査はできましたが、あくまでも検出器と本体とコンビでないと検査できませんでした。ところがこの検査機は測定基準システムにインダクティブとインクリメンタルの両方を内蔵し組み合わせてダイヤルゲージや検出器の検査を行います。しかも検出器単体では電子マイクロメータであるテサ、マール、ミツトヨ社のインダクティブゲージヘッド単体や、ハイデンハイン社のインクリメンタルゲージヘッド単体でも動作確認が行えます。
アナログ型の電子マイクロメータでは非常に高速検査が行われ± 1mmの測定範囲がわずか30秒で検査されます。さらに最近では現場にて良く使用されているミツトヨ、シルバック、マール社デジタル型ダイヤルゲージも全自動検査が行えます。
特長
1. インダクティブとインクリメンタル両測定基準システム内蔵されています。
2. 両測定システムから各測定サイクルは電気的機械的システムの絶対ゼロ
から開始され、システム誤差を演算で補正します。
3. インダクティブゲージヘッドのリニアリティ誤差が正確に検査されます。
4. 同じくインダクティブゲージヘッドはアナログによる測定値取込みと演算が
高速で行われます。
技術仕様
測定長さ：0-50 mm
測定速度：2 mm/s
測定基準システム：LIP401及びインダクティブ絶対測定システム
分解能：0.01 µm
絶対値システム精度：20ºC± 0.5K時、50 mmで最大0.2 µm
PCはWindowsで顧客にてご用意ください。
Q.P.T.社ホームページ
ハーレ社粗さ校正標準片は必要に応じて単体でご購入下さい
Halle社の触針式表面粗さ測定機校正用標準片は単品でも注文できます。1個の場合にはそれ専用の木箱で納入されます。上記写真は3個でそれぞれ、左から2060/01、4058/01、4070/03です。
光学式粗さ計用校正標準片4080
自動画像解析装置付きの干渉顕微鏡による粗さ測定は増加の傾向にあります。これは光学式で非接触による測定が素早く行われるからです。しかも殆どの測定機はISOやJIS準拠の粗さパラメータの計算をしてくれますが、本当に規格通りかは明らかではありません。と言うのも粗さ測定の規格はスタイラスによる触針接触式粗さ計をターゲットにしており顕微鏡が対象ではないからです。触針式粗さ計との比較はいろいろな結果をもたらしますが、満足いくものではありません。これは干渉顕微鏡の横方向分解能が狭く規格通りのトレース長さが得られないのも影響しています。
今回発表のこの標準片は平面上に溝研削された深さ用標準片です。特長は
1) 光学式粗さ測定機の校正ルーチンソフトは測定面は平面が前提のため
 この標準片は平らに作られてあります。
2) 深さとはいえ斜めの溝側面をもっており、光学干渉式による測定では明確な
結果をだすことが出来ます。
3) 測定表面の反射度を高くして光学式粗さ測定機によるより良いS/Nが得られ
るようになっています。
4) 溝深さは次の6種類です。
0.24、0.75、2.4、7.5、24、75µm
4080の詳細は以下のPDFファイルをご参照下さい。
校正標準片4080
触針式粗さ計用校正標準片4058
ドイツ ハーレ社 (Halle-Präzisions-Kalibriernormale GmbH) の粗さ計校正用標準片はドイツ物理工学研究所(PTB)の校正証明書付きです。品質保証及び品質管理規格ISO 9000シリーズでは製品製造段階でのトレーサビリティが要求され、触針式表面粗さ計分野でも同じです。マスタなしではトレーサビリティは取れません。ドイツ ハーレ社はPTB校正の標準片を昔から製造しています。JIS規格では2001年2002年で粗さ関係の規格が全て変更になり、2002年に新しく制定されたJIS B0659-1"測定標準＿第１部：標準片"(ISO 5436-1とほぼ同じ)に各種のマスタが決められました。ハーレ社は深さ用(タイプA2)と粗さパラメータ用(タイプD1及びD2)の標準片を製造しております。詳細は次項を参照ください。なお深さと粗さパラメータの合計4種類は左の木箱にて収納されます。写真の例は3種粗さパラメータのみで深さ用1種は入っていません。
1) ｢2002年迄の表面粗さパラメータのISO化に伴う粗さJIS規格の変遷｣
2) ｢粗さJIS規格変更に伴い機械屋さんが知っておくべき常識｣
3) 技術資料｢触針式表面粗さ計を上手に使うための機器の校正と触針の知識｣
4) 技術資料｢超仕上げ面粗さパラメータ校正用標準片は光学式粗さ計にも適用可能｣
5) ｢表面性状Rkパラメータのさわり｣の技術資料をご希望の方はメイルにてご要望のタイトル名を記入のうえお申し込みください。
技術資料のご請求はEメイルにてお願いします！
深さ用標準片2060及び粗さ用標準片4058
おなじみの品質保証及び品質管理規格ISO 9000シリーズでは製品製造段階でのトレーサビリティが要求され表面粗さ測定機分野でも同じです。JIS B0659-1"測定標準_第1部:標準片"あるいはISO 5436-1及びドイツ物理工学研究所PTBに準拠の触針式(スタイラス使用)粗さ計の縦倍率校正深さ用標準片2060は上側の図で規格のタイプA2です。粗さ用標準片4058は右側の図で規格のタイプD1です。
深さ用標準片2060は長さのSI単位系にあわせて校正されており、粗さ計スタイラスの縦方向動きのトレーサビリティが取れます。40x20x10mmの磨いたガラス製で測定部はその試料のほぼ中央部に設けられています。深さ用標準片は通常2種類で上記図の左側の6溝または真中の3溝です。6溝は型番2060/01/6/Pkで、6種類の溝深さは0.25/0.6/1/3/6/9 µmです。 右側の干渉縞は深さ3µmの例です。3溝は型番2060/01/3/Pkで、3種類の溝深さは1/4/9 µmです。今回上記の溝の中の1種を選択した1溝用の2060/01/1/Pkも新発売され3種類になりました。
右側の図は粗さパラメータ校正用標準片4058です。40x20x11.3mmの焼き入れステンレス鋼で、17x5mmの測定平面は2-4mmの長さで繰り返される不規則な研削形状で、単純な正弦波形や三角波のものに比較して、うねりやスタイラス半径の影響もチェックできます。なお校正時に使用すべき位相補償フィルタ(ガウスフィルタ)値とRa、Rz、Rmaxの粗さパラメータ値が記述されてあります。不規則形状粗さの種類は3種類でRa値が0.2µm前後の4058/01A1/Pkで、0.5µm前後の4058/01A2/Pkで、1.5µ前後の4058/01A3/Pkです。
2060の詳細は以下のPDFファイルをご参照下さい。
校正標準片2060
4058の詳細は以下のPDFファイルをご参照下さい。
校正標準片4058
超仕上げ面粗さパラメータ校正用標準片4070
 
機械加工がますます精密になるにつれて、その超仕上面加工の品質保証と管理は非常に大きなテーマです。粗さ計のスタイラス半径が1µm異なってナノメートルの世界では大きく異なります。しかも触針式粗さ計用の粗さマスタでRa値で20〜100nm、Rz値で100〜500nmの超仕上面粗さマスタを供給できるのは他にありません。この校正用標準片は規格のタイプD2です。
直径50mm厚さ10mmのニッケル表面の直径26〜34mm内の幅4mm間に不規則形状で旋作加工し半径方向に1.25mmのプロファイルが繰り返すようにします(左側の図)。その4mm幅を中心に長方形9x5mmの中に納め、右側の図のような粗さ標準片を作ります。
Ra値で25nmの4070/03A1/Pk、50nmの4070/03A2/Pk及び80nmの4070/03A3/Pk3種類があります。
いずれもPTBの公的校正証明書付きにて販売致します。
4070の詳細は以下のPDFファイルをご参照下さい。
校正標準片4070
2060、4058及び4070を含んだ総合カタログは4枚です。見たい方はここをクリックしてください。
触針式表面粗さ測定機校正用標準片の総合カタログ
Halle社ホームページ
レッタ社
ドイツ レッター社 (Retter Automation+Messtechnik GmbH) は三次元測定機用校正装置であるボールプレートを作っています。同じくドイツ物理工学研究所(PTB)の校正証明書付きで、ボールはセラミックとスティールの2タイプです。大きさは3種で300mm、400mm及び600mmの平方の大きさです。このセラミクタイプは日本では独立法人化まえの工業技術院計量研究所殿に納入済みです。
なおレッター社はドイツでは特に自動車業界向けの各種治具等の設計及び製作を行っております。主たる顧客はダイムラー・クライスラー、BMW、VW、AUDI、フォード、GM/オペル、ボッシュ、ZF社さらに計測関連ではツアイス、マール、マーポス、ブラウン＆シャープ社などでドイツ連邦物理工学研究所(PTB)にも納入実績があります。何か治具その他でお困りの事がございましたら、弊社宛一度お気軽にお問い合わせください。
レッター社ホームページ
アメリカ エー・ジー・デービス/エーエーゲージ社
  
アメリカ エー・ジー・デービス/エーエーゲージ社 (AG Davis / AA Gage) 超精密インデックステーブル'ウルトラデックス'
真中の写真はその精密原理であるヒースカップリング部です。
製作可能なインデックステーブルは以下の通りです。
インデックス精度 ： ±1/8秒以下
リピータビリティ ： ±1/20秒以下
製作可能なセレーションの数(読み取り角度) ： 180歯(2度)、360歯(1度)、720歯(0.5度)、1440歯(0.25度)
この他にも120歯、280歯、375歯、400歯、512歯、672歯、1024歯、1350歯
テーブル直径 ： 5"(127mm)、7"(177.8mm)、8"(203mm)、10"(254mm)、12"(304.8mm)、18"(457mm)、24"(610mm)、36"(914mm)、48"(1219mm)
右の写真はウルトラデックスにポリゴンミラーを組み付けたもので精密工作機械のテーブルのインデックス精度の確認で日本の工作機械メーカで既に使用されています。
A.G. Gavis - AA Gage社ホームページ
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