アキ・アルテック株式会社情報「ドイツ FRT社の詳細」 ホームページのトップへお知らせと情報FRT社の詳細 背景の画面はFRT社のある見本市での小間風景です。
FRT社ホームページ 最終更新 : 2011年8月 2本センサ付きMicroProf 100納入完了 ドイツFRT社から予定通り7月末に出荷され、8月9日10日と2日間にわたり、千葉県のAダイヤモンド工業株式会社様にて光学センサ2本付きのFRT社MicroProf 100の据付け及びトレーニングが終了しました。トレーニングは測定機の前で来日エンジニアでアプリケーションマネージャのDr. Koglinによる英語で行なわれました。雑談の中で実は台湾のある会社がやはりダイアモンドのツールをFRT社へ特別注文のソフトウエアを使って3台のマイクロプロフで測定しているとか、いろいろな情報が非公式で得られました。Dr. Koglinは台湾、韓国、中国など日本以外ではアジアにも来た事があるとのことでした。作業終了後離日前の時を使って始めての外人さんが見る皇居、東京タワー、浅草や夜の銀座も少し見て無事帰国しました。でも稲わらなどの放射線問題あるいは日本滞在時に大きな地震がなくて安心しました。大きな地震で驚かせてはまた必要な時の来日で断られますので。今年ドイツの夏は冷夏と言っていましたが、日本の35℃を超える熱さにはビックリしていました。その暑い中を東京タワーへ行きました。 最終更新 : 2011年5月 2本センサ付きMicroProf 100受注 Aダイヤモンド工業株式会社様はFRT社MicroProfを中国そのほかで知り、ダイヤモンドの測定に使用したいとの事で、サンプルをドイツFRT社に送り測定しました。その結果採用が決まり、2011年4月末に受注しました。夏ごろには納入される予定ですが、福島原発問題の収束の目途が立たないとドイツ人エンジニアによる現場でのトレーニングはなくなり、弊社によるインストレーションとなります。百ページ以上の取扱説明書は既に日本語版が用意されていますが、顧客様は非接触測定装置は今回が初めてのために弊社としてはできるだけメーカのエンジニアの雰囲気を味わって頂きたいと思っており、現在は福島原発の収束を願っています。左の写真はFRT MicroProf 100です。 'マイクロプロフ'カタログ 最終更新 : 2011年4月 MicroProf 100納入。但し光学センサは測定サンプルにより取扱に注意が必要 2006年にIマテリアル株式会社様がアメリカの著名半導体メーカ様の推奨でFRTアメリカよりセンサ2本付きのMicroProf 100を購入し、Tダイヤ株式会社様にて新製品の最終検査に使っていました。当時は日本での代理店に注目せずに半導体メーカ様からの口利きでご自身で輸入なさったそうです。使用頻度が高く2008年光学センサのハロゲンランプが切れてしまった時にたまたま弊社をインターネットで見つけ、弊社がそのお手伝いをした経緯がありました。このたび製品も試作段階がほぼ終わり、現在日本を含めて世界中の半導体メーカ様に採用されようとしています。このため2本センサのうち特に製造ラインに使っている光学センサを1本つけてMicroProf 100を2010年秋に受注しました。実はFRT社光学センサは数年前の光源が使用時間により消耗して交換が必要なハロゲンランプから明るくて寿命が半永久のLEDに交換していました。これは光源の光量が強く非接触測定時間をほぼ半減できる新しいセンサシステムです。装置納入後、実は顧客様サンプルを測定すると測定結果がハロゲンランプとLEDランプで異なります。FRT社で同じ測定サンプルを測定しても、最初は原因が不明で顧客様もFRT社MicroProfでの測定結果を製品に添付してエンドユーザ様に納入している関係で、あくまでもハロゲンランプによる測定結果に拘りました。実は3月14日(月)にドイツFRT社からエンジニアが来日し、装置の確認に来る予定でしたが、3月11日(金)にあの東日本大震災があり、しかも福島原発問題で中止となりました。顧客様での測定とドイツとの頻繁の電話連絡で、これは測定物が一般の金属でない特殊材料のために、光源光量の強さによる差とやっと分かりました。顧客様には長い間ご迷惑をおかけしましたが、非常に良い勉強をさせて頂きました。FRT社も世界中でMicroProfあるいは上位機種のMicroGliderの両方で380セット以上販売していますが、1社でしかも光学センサの原理の異なる機種をお持ちいただいたのは今回が初めてで、かつ顧客様特有の測定物のために原因究明に時間がかかり、最終的に顧客様に甘えてしまいました。現在は問題なく2台の装置でフル稼働で製造ラインチェックと最終検査を行なっているとのことです。なお製品が世界中に売れ出せば当然1台は測定時間が早くなっていますが、不足するとのことで弊社及びFRT社としては顧客様の世界販売戦略のご成功を祈っております。最終更新 : 2011年3月 FRT社フリース社長とFRT上海社グリーン・マネージャが来日 東日本大地震前の3月7日にFRT社フリース社長とFRT上海社グリーン・マネージャが来日し久しぶりの歓談を行ないました。当日は数日後の大震災など全然関係なくゆっくりと過ごしました。なおたった1日の特急来日で弊社関係の顧客様への挨拶はできませんでした。右の写真左から:グリーン・マネージャの日本語通訳、グリーン・マネージャ、フリース社長 最終更新 : 2010年4月 MicroProf 200のWin 98用PCのアップグレード受注し、Windows XP制御に 2001年にM電器産業株式会社(現:P株式会社)技術研究所様へ納入されたMicroProf 200の光学センサが故障して、実は2009年3月に顧客の依頼にてセンサ修理を行ないました。これは日本でのFRT社日本総代理店が株式会社コーレンスがよしてからフリになっており弊社でも取扱い可能となったためです。センサ修理の完了当時からPCが古くなって着ており作業効率が悪いとの事で、Win 98のバージョンアップのお話を受けていました。この装置の制御ユニットは工業用PCが内蔵されたタイプのためにドイツでの交換調整が必要で、テーブル側は送らずにPC内蔵の制御ユニットのみドイツへ送ります。予算も取れてMicroProfの制御ユニットのみ送ってWindows XPにバージョンアップしました。もちろんCPUなども最新のものに変更しています。現在順調に稼動しております。最終更新 : 2008年3月 ドイツFRT社最新情報 今年になって弊社はドイツQ.P.T.社製の印刷ロール測定専用のビデオ顕微鏡を日本の印刷機械メーカに納入しました。そのとき顧客から非常に薄いフィルム厚が測定できる計測器の引き合いを受けました。現在印刷技術は紙上に印刷するだけでなく、一般には液晶業界、半導体業界あるいは他の業界でコーティング技術として幅広く使用されています。ご多分にもれずこの顧客も沢山の印刷機械を世界中に輸出しています。日本におけるドイツFRT社製品に関しては、弊社はスタンドアロンFRT"マイクロプロフ(光学センサ1台つき)"を数年前に日本の大手電気製造会社へ納入した実績で沢山はありません。しかしながらかってないほどに小さくなる微小電子デバイスに対する技術の最先端の傾向は半導体業界でもまた新しいアプローチが要求されています。そしてまさにその時期到来です。我々がFRT社の万能マルチセンサプラットフォームを日本において拡販できるかもしれないと言うことです。このプラットフォームはコスト的にもまた使用勝手からも、1台に光学式とAFM(原子力館顕微鏡)という全然異なる原理の組込みが可能です。我々は本ホームページでドイツFRT社の最新情報をお届けしましょう。 ドイツFries Research & Technology GmbH (FRT)社はトポグラフィ、厚み、粗さ、研磨他沢山の表面上の特性を非破壊で検査するための計測システムを広範囲に提供しています。FRT社計測システムは自動車業界、半導体業界、MEMSの業界、光学業界や製薬業界などで著名な国際企業は彼らのR&D部門はもちろん製造部門でも使われています。FRT社はドイツ ケルン市郊外のベルギッシュ・グラドバッハを本社にアメリカ、中国、スイスにも子会社とドイツ南部ミュンヘン市にも支社を有しています。さらにFRT社はアジアとヨーロッパに代理店とサービス網を形成しています。 (左の写真はFRT社のある見本市での小間風景です。)
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最終更新 : 2007年12月 セミコン・ジャパン2007にてFRT社アジア地区販売部長と会談 2007年12月5日(水)から7日(金)幕張メッセにて行なわれた「セミコン・ジャパン2007」にてFRT上海社アジア担当部長シーン・グリーンさんと7号館ドイツパビリオンにてお会いしました。FRT社フリース社長からアジア地区を任されて赴任しました。日本でFRT社の新しい製品を紹介してみたいとの弊社の考えに最新の半導体関連の資料を送ってくれるとのことです。とりあえず1部最新版FRT社カタログをいただきました。 FRT社ホームページ 最終更新 : 2006年11月 FRT社フリース社長に代わってホテルニューオータニでのIVAM日本セミナで代読講演 FRT社フリース社長から11月に日本のホテルニューオータニ東京で行われるドイツ ノルトライン・ヴェストファーレン(NRW)州日本代表事務所(株)エヌ・アール・ダブリュージャパン主催のワークショップ2006「ドイツ発マイクロ・ナノテクノロジーの応用 - マイクロ流体技術/ナノ精度の形成・製造・試験」にて講演依頼を受けました。実はFRT社日本総代理店は現在不在でこの講演もフリース社長自ら行う予定でしたが、急遽アメリカでの仕事が入り来日できなくなったとの事でした。とりあえず資料をいただき翻訳して主にOHPによる写真説明でFRT社の誕生から現在までを発表しました。少しはお役に立てればと思いました。当日は第三部の「マイクロ・ナノ精度の形成・製造・試験」のセッションで午後3:50から4:10まででした。なお同じセッションで午後5:05からアルバック・ファイ株式会社の渡邉技術部長が同じドイツIVAMメンバのクロッケ・ナノテクニック社のナノロボティックスに関する講演も行うという奇遇をえました。夜は講演者参加者でパーティが開催され親睦を深めました。当日のFRT社講演内容は下記PDFファイルを見て下さい。OHP写真の縮小版が見られます。 FRT社NRW-IVAMセミナー2006 弊社はFRT社製品の販売拡販に向けて当面努力していくことに決めました。そして徐々にFRT社の新しい情報や機器のカタログや資料を翻訳し日本の顧客に勧めてみたいと思います。 最終更新 : 2006年4月 セミコン・ヨーロッパ2006にFRT社半導体業界への積極的な売り込み FRT社に関しては弊社が日本での代理店でない関係から、ここ数年直接にコンタクトをとっていませんでした。が知らない間に表面性状のスペシャリストから半導体業界にもかなり計測機で進出してきました。顧客もいろいろな分野にまたがり仕事は非常に忙しいとのことでした。FRT社の活躍を祈りたいと思います。写真はFRT社フリース社長及び本展示会場にきている社員の皆様とその小間の前で 最終更新 : 2005年6月 FRT社ニュース関係の日本語への翻訳開始 2005年5月24日(火)FRT日本総代理店である株式会社コーレンスは横浜市鴨居のジャーマンインダストリーセンタ内にある同社ショールームにて同社取使い各ドイツメーカの製品説明の講演会が行われました。メインテーマはOKM社とヘリオス社でしたが、FRT社製品もその資料の必要性を感じました。このため弊社独自でFRT社ニュースのうち日本の顧客に受けそうなものをまず翻訳し始めることにしました。まず最初にFRT社計測機の施用なセンサから翻訳を始めました。以下のタイトルの文章は日本語訳済みです。 FRT社各種センサ ・ベストセラー計測機"マイクロプロフ"に使用される基本のクロマティックセンサ FRT CWL・ベストセラー計測機"マイクロプロフ"に取付けAFMになる操作型プローブ顕微鏡用センサ FRT AFM ・ベストセラー計測機"マイクロプロフ"のオプションで干渉式フィルム厚み測定用クロマティックセンサ FRT CWL FT FRT社アプリケーションニュース ・No.1(11/02)は自動車インテリアに使用される人工皮革の測定です。・No.3(11/02)はウェハー上の透明薄膜の測定です。 ・No.4(11/02)はナノメートルとメートル間のギャップを埋めるためのFRT社提案の光学センサとAFMセンサの組合わせです。 ・No.5(08/02)は粗さと平面度やボウの形状誤差の測定です。 ・No.6(11/02)はBGA(Ball Grid Arrays)とはんだ付けバンプの測定です。 ・No.8(10/03)はフィルムの厚み、粗さ及びトポグラフィの非接触測定です。 2002年11月 FRT社ヘッドラインニュースNo.2 ・FRT社ヘッドラインニュース No.2(英語)日本語訳が必要な方はEメイルにてお申し込み下さい。 最終更新 : 2004年4月 2004年4月現在 FRT社アプリケーションニュース No.1(11/02)は自動車インテリアに使用される人工皮革の測定です。No.2(07/02)は光学レンズのトポグラフィ測定です。 No.3(11/02)はウェハー上の透明薄膜の測定です。 No.4(11/02)はナノメートルとメートル間のギャップを埋めるためのFRT社提案の光学センサとAFMセンサの組合わせです。 No.5(08/02)は粗さと平面度やボウの形状誤差の測定です。 No.6(11/02)はBGA(Ball Grid Arrays)とはんだ付けバンプの測定です。 No.7(11/02)はプラスチックダイキャストの構造、高さや粗さの測定です。 No.8(10/03)はフィルムの厚み、粗さ及びトポグラフィの非接触測定です。 No.9(10/03)はウェハースキャナやステッパ用レンズホルダの測定です。 No.10(10/03)は製紙業界用の紙の表面特性の測定です。 No.11(10/03)はゴム製品の充填剤を決めるための測定です。 No.12(02/04)は深いめくら穴底の表面の測定です。 2002年11月 FRT社ヘッドラインニュースNo.2 沢山ある製品のカタログや資料などは順次日本語化していきます。 |