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最終更新 : 2012年1月 新技術及びナノテクノロジ
エフ・アール・ティ社(ドイツ FRT, Fries Research & Technologies GmbH) ドイツFRT社1995年8月Dr. Thomas Friesがケルン市郊外のベルギッシュ・グラドバッハのテクノロジセンタ内に創立しました。工業用アプリケーションに表面性状を研究するスペシャリストの会社で、彼が常日頃考えていた表面性状測定機(粗さ計やプロファイラ等)と走査型プローブ顕微鏡(SPM)の橋渡し機種の開発でした。そして1997年アコースティックニアフィールドセンサを使って非接触のマイクログライダ®を発表しました。1997年には光学センサ(現在のクロカチックセンサ)を取り付けたマイクロプロフ®の開発で大きく躍進しました。これはトポグラフィ、厚み、粗さ、研磨他沢山の表面上の特性を非破壊で検査するための計測システムで一気に会社の名前を世界に広めました。2005年には創立10周年記念も行ないました。現在FRT社計測システムは自動車業界、半導体業界、MEMSの業界、光学業界や製薬業界などで著名な国際企業は彼らのR&D部門はもちろん製造部門でも使われています。FRT社はドイツ ケルン市郊外のベルギッシュ・グラドバッハを本社にアメリカ、中国、スイスにも子会社とドイツ南部ミュンヘン市にも支社を有しています。さらにFRT社はアジアとヨーロッパに代理店とサービス網を形成しています。コンフォーカルトポグラフィ顕微鏡"MicroSpy® Topo"発表 “マイクロスパイ トポ” はビギナ向けの手頃なコンフォーカル・トポグラフィ顕微鏡です。取扱いが簡単でかつ石定盤使用のユニークな剛性構造です。コンフォーカル測定原理により本計器は最大縦方向分解能1nmも可能で、FRT社MARK IIIソフトウエアで容易に3次元解析が出来ます。このため“マイクロスパイ トポ”は生産現場をはじめ、R&D部署でも各種の異なったアプリケーションに使用されます。特に半導体、MEMS、自動車、光学、、プラスチック、製糸、太陽電池及び研究所などの業界をターゲットにしています。本システムは数種のレンズを使い、また位置決めが簡単にできるようにジョイスティック制御のモータ駆動100 mm x 100 mmのXYステージ付きです。ビギナ向けとはいえ一人前のトポグラフィ測定機としてトポグラフィ、粗さ、輪郭、構造の2D及び3D解析が出来るFRT社の非常に視覚的なマークIIIソフトウエアが付属しています。測定例
現在のFRT社製品 FRT社の業務ビジネス範囲 (1) 測定システムの販売トポグラフィ、厚み、粗さ、研磨他沢山の表面上の特性を非破壊で検査するための計測システム、現在では長さなどの寸法はもちろん原子力間顕微鏡(AFM)機能を持たせることもできますし、半導体業界の特にウェーハの特殊測定値(ワープ、ボー、TTV...)の解析も行なうことが出来ます。
(2) 生産管理システムの販売 標準の測定システムに追加してFRT社が要求される生産環境に適用できる高度でそして特別なソリューションを設計・製造
(3) 測定サービス業務 再度脚光! 非接触光学式トポグラフィ測定機 "マイクロプロフ ®" 他 ドイツ エフ・アール・ティ社 (FRT GmbH) 社の'MicroProf'マイクロプロフ非接触トポグラフィ測定機は白色光を用いた光学センサで高速に物質表面のトポグタフィが得られます。データ解析はFRT Mark IIIにより走査型プローブ顕微鏡と同じソフト解析が行えます。FRT社はケルン市郊外のテクノパークにあるベンチャ企業です。今回クロマティック光学センサの光源をハロゲンからLEDに変更し、反射率が低く今まで測定が難しかったポーラス入り樹脂なども測定できるようになりました。しかも2010年9月-2011年7月までに2台受注しました。
MTT Technologies GmbH社は2010年11月30日にSLM Solutions GmbH社となりました。 MTT Technologies GmbH社はSLM Solutions GmbH社に
ドイツ リューベック市のMTTテクノロジーズGmbHとイギリス ストーン市のMTTテクノロジーズLtdのMTTテクノロジーズグループは彼等の活動を商業的に分離する公約に到達しました。ドイツの会社はドイツ リューベック市のSLMソリューションズ社(SLM Solutions GmbH)となり、イギリス ストーン市のMTTテクノロジーズLtdは変更せずそのままです。
MTTフィーラ入りナイロン真空注型機が日本にも納入され稼動開始
北ドイツ リューベック市のMTTテクノロジーズ社(MCP HEKツーリング社)(MTT Technologies GmbH)のMTTフィーラ入りナイロン真空注型機が日本へ納入され、稼動を開始しました。第一報より詳細なデータを入手できました。 MTTテクノロジーズ社(ドイツ 旧:MCP HEK Tooling GmbH) 北ドイツ リューベック市のMCP HEKツーリング社(MCP HEK Tooling GmbH)はラピッドツーリングテクノロジでは初歩から最高テクニックまで、型技術と材料の供給、据え付け、トレーニングを行えるメーカとして世界的な評判を得てあります。このたび特に真空注型技術において、従来真空注型品はウレタンやエポキシのサンプルの域を出なかったものが、ナイロン製品が真空注型品で製作できるという画期的は新技術を開発しました。これはハイテクの領域です。 フィーラ入りMCP真空注型装置発表 北ドイツ リューベック市のMCP HEKツーリング社(MCP HEK Tooling GmbH)はナイロン真空注型機のメーカとして有名ですが、このたびナイロン真空注型品にフィラー入りを可能にしました。2007年12月5日(水)から8日(土)フランクフルト見本市会場で行なわれた「EUROMOLD 2007に出展しました。今回その第1報である"MCP HEKナイロン真空注型装置でガラスファイバ入りのナイロン部品の生産"を紹介します。すでにMCPナイロン真空注型機5/04をお持ちのお客様にはレトロフィット・キットも用意しました。
樹脂型による射出成型 1) 高品質射出成型金型を作るEP成型樹脂
2) MCP射出成型装置 100KSA
MCPナイロン真空注型技術
この新ラピッド・マニュファクチャリングプロセスは、MCP HEK社の真空注型技術の全てを兼ね備えながら、さらに重鎮後ただの6分でナイロン注型品が脱型できるという非常に画期的な特長を備えております。 MCP HEK社の各種技術
ナノツールズ社(ドイツ nanotools GmbH) 高アスペクト比でCNTライクのカンチレバ発表 新製品ティップはM-シリンダの直径をさらに細くして20nmとして最小長さ500nm、名前をカーボンナノティップM-CNTとしました。半導体次世代65-40nmノードに対応できます。既に大手の試作ラインで使用されているそうです。これに関連してナノツールズ社サポートも参照してください。2007年6月現在の市販のカンチレバとナノツールズ社HDCティップとの簡単な選択方法は下記PDFファイルを参照して下さい。 90-70nmノード用CNTライクのM-シリンダカンチレバ発表
AFM用カンチレバーHDCティップ
ドイツ ナノツールズ (nanotools GmbH) 社は高密度カーボン(High Dense Carbon, HDC)製の原子力間顕微鏡(AFM)用のスキャニングプローブ(カンチレバー)のメーカです。ミュンヘン大学のナノサイエンスセンタ(CeNS)からカーボン堆積で任意形状と任意寸法製造の技術を持って1997年にスピンアウトして作られた会社で、SPM用でシリコン製カンチレバーでは世界的に有名ドイツNanosensors社、スイスNanoworld社、日本オリンパス株式会社及びアメリカVeeco社製のカンチレバーにHDCティップを堆積します。 アプリケーションによるティップの簡単な選択方法やティップの製品リストは下記PDFファイルを参照してください。 ![]()
クロッケ ナノテクニック社(ドイツ Klocke nanotechnik) 電子顕微鏡:三次元SEM/FIB
左の写真がドイツクロッケ・ナノテクニック社デモ用ラボ内のTESCAN高解像度ショットキーFE SEM MIRAで4式のクロッケ・ナノテクニック社ナノロボティクスが組み込まれ加工、クリーニング、測定などオールマイティで動かす事ができます。デモもやってくれるとのことです。最初の三次元SEM / FIBでSEM / FIBの計測機能が以下の測定を可能にし三次元に拡大されました。    サンプル高さやステップ高さ   軸に沿った直線スキャン   3次元行路に沿った直線スキャン   内側及び外側の輪郭形状   三次元表面性状トポグラフィ   上述の直線スキャンの粗さパラメータ計算   3Dトポグラフィ、穴や側壁の輪郭や粗さ
左のTESCAN用小リーフレットの日本語版が出来ました。ご請求はE-mailにてお願いします。
特殊ナノモータは大手研究所へ、ナノマニピュレータは国立大学へ納品
大手電気メーカの研究所からSTMのZ軸制御用にPID制御ボード付きの大型ナノモータを受注して2007年2月に納品しました。ナノマニピュレータはクロッケ・ナノテクニック社開発のナノロボティックス・シリーズ製品で従来の古典的機械工学と現代のナノテクノロジ間のブリッジの役目をしています。この製品は2つの技術:ナノメートル分解能でバックラッシュなしの動きとセンチメートル単位のストロークで数kgの耐荷重という利点を混在させたものです。このユニークなナノロボティックス・シリーズは世界中で200セット以上が単体であるいは他の構成要素と組み合わされたアプリケーションで使用されています。それらは「Dimensional SEM/FIB」「e-beam Lithograpy stages」「Wafer Probing Systems」「In SEM Field-emission」「Automatic TEM lamella handling」「SPM Lithographer」「Microassembly starter kit」などなどです。それ以外のアプリケーションでも使用されていますが、文献にて発表されている以外は秘密扱いでまだ全てをオープンにはできません。日本では従来ナノモータは電子顕微鏡メーカへのマニピュレータを除けば、独立行政法人や大学・大学院などで電子顕微鏡へ組込んでの単体使用が多かったのですが、今回このナノロボティックス・シリーズのXYZ3軸制御ナノマニピュレータが国立大学法人に2007年3月に納入されました。どのようなアプリケーションにて使用されるか注目です。下記3つのテーブルを組合わせ上のXYZナノマニピュレータに発展させる事が可能です。 ![]() ![]()
微小駆動ピエゾナノモータ
ベアト社(ドイツ Werth Messtechnik GmbH)
ドイツ ベアト社 (Werth Messtechnik GmbH) のCCDカメラ搭載の三次元測定機の極小ファイバセンサは直径25μmですから、50μm以上の径や形状を含む小穴測定が可能で、例えば非常に小さく精密可能を要する自動車のディーセルエンジンの噴射ポンプの噴射口も測定できます。 アメリカ A.G.デーヴィス - AAゲージ社(アメリカ A.G. Davis - AA Gage) 加工機積載用超精密自動インデックステーブル"オートマチック・ウルトラデックス"
写真は16インチ全自動ウルトラデックスMark IVとそのコントローラです。例えば平面研削盤のテーブルにこのウルトラデックスを積載し角度を出して研削すればその角度割り出しが±1秒以下のギアができます。マスタテーブルになります。 アメリカA.G. Davis - AA Gage社の剛性タイプロータリーインデックステーブル”ウルトラデック マークIV” は他のウルトラデックス マークIIIモデルよりも、許容荷重とクランプ圧力を強化した剛性タイプです。設計思想は高精度機械加工、精密測定や歯車検査をターゲットに、位置決め誤差が累計されないインデックス構造で絶対回転位置決め精度±1アーク秒以下で繰り返し精度±1/20アーク秒という高精度要求のアプリケーション専用に作られています。 本テーブルは超高精度セレーション(歯)を利用しています。これは高精度インデックスを保証するだけでなく、そのセレーションが噛み合った状態では殆ど一体金属の固体のように剛性のあるカップリングを創生します。 テーブル上面は内蔵のエアシリンダにて持ち上げられ、さらに噛み合いのクランプも兼ねます。空気源は5.2-5.6 bar(520-560 kPa、75-80 PSI)でテーブル上面の持ち上げとクランプに使用します。テーブル上面は持ち上がった時に回転しインデックスされます。テーブル上面の回転はステップモータの減速ギアで行なわれます。インデックス角度はインデックスすべき角度と同じモータのパルス(ステップ)の数で制御されます。 ウルトラデックス マークIV” ロータリーインデックステーブルはインデックスさせるのに手動と自動があります。テーブルが横構造(上の写真のように縦軸)と縦構造(横軸)があります。インデックス角度は1回転で180度(2度とび)から1440(1/4度すなわち15分)位置まで選択できます。テーブル上面の大きさは8インチ(約203mm)、12インチ(約305mm)、16インチ(約406mm)、24インチ(約610mm)及び36インチ(約914mm)があり、上面の仕様はT溝付きあるいはタップネジ付きが選べます。自動インデックスタイプは上写真のコントローラもご要望により納入できます。またFANUC製NCコントローラとのM-機能によるマッチングも行なえます。
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